微分干涉（DIC）顯微鏡的工作原理是利用相干光干涉現(xiàn)象，將樣品表面形貌的變化轉(zhuǎn)化為光程差。利用位置敏感探測器檢測光波前的強度變化，并通過數(shù)字信號處理得到樣品表面的高度變化。同時，該技術(shù)還可以通過調(diào)節(jié)相對相位差，實現(xiàn)多種光程差的測量，從而得到更為精細(xì)的表面形貌信息。微分干涉（DIC）顯微鏡廣泛應(yīng)用于生物顯微學(xué)、半導(dǎo)體芯片表面檢測、納米材料的制備和改性、精密零件的表面質(zhì)量檢測、PCB缺陷檢測、精密模具檢測等，是現(xiàn)代科學(xué)研究中重要的工具之一。
它的優(yōu)點是高分辨率、高精度、無接觸和非破壞性的測量方式。相對于傳統(tǒng)的顯微鏡，其分辨率可以達(dá)到亞納米級，能夠觀察到更細(xì)小的表面結(jié)構(gòu)和形貌變化。同時，由于該技術(shù)無需與樣品接觸，免除了對樣品的損傷和污染，非常適合對生物和醫(yī)學(xué)樣品進行觀察和研究。
波長光電開發(fā)的微分干涉（DIC）顯微鏡采用緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，滿足顯微操作的防震要求；模塊化功能設(shè)計理念，方便系統(tǒng)升級，導(dǎo)柱升降裝置，可快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測，搭載機械移動式載物平臺，有效定位工件，適合于顯微觀察或多試樣快速檢測。人機工程學(xué)理想設(shè)計，操作更方便舒適，空間更廣闊。
線路板導(dǎo)電粒子檢測
產(chǎn)品參數(shù)
微分干涉（DIC）顯微鏡作為一種高分辨率的顯微鏡技術(shù)，在現(xiàn)代科學(xué)研究中發(fā)揮著重要作用。隨著科技的發(fā)展，它將會越來越精密和高效，為科學(xué)研究和工業(yè)制造帶來更多的可能性和機遇。
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